Das neue FIB-SEM Elektronenmikroskop Tescan Amber X

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Unser FIB-SEM-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl ist bei IWG zu einem unverzichtbaren Werkzeug geworden. Es ermöglicht die präzise Präparation und Analyse einer breiten Palette von Anwendungen für unsere Kund:innen.


Das Tescan Amber X besteht aus einer einzigartigen Kombination aus feldfreier Ultra-High-Resolution BrightBeam™ REM-Optik und Xenon Plasma-FIB. Damit können unterschiedlichste Applikationen präzise präpariert und analysiert werden.

Kennen Sie bereits die Vorzüge?

Hohe Durchsätze und großflächige FIB-Verarbeitung
Ultrahochauflösende, feldfreie FEG-REM-Bildgebung und -Analyse
Hochauflösendes Massenspektrometer
Rocking Stage für eine verbesserte Schliffqualität
Ein überragendes Sichtfeld für einfache Navigation
Einfach zu bedienende, modulare grafische Benutzeroberfläche

Komplettiert wird das FIB-SEM Rasterelektronenmikroskop System durch einen EDX-Detektor mit besonders großem Detektorenfenster zur Darstellung der spezifischen Zusammensetzung einer Materialoberfläche.

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