Das neue FIB-SEM Elektronenmikroskop Tescan Amber X
Unser FIB-SEM-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl ist bei IWG zu einem unverzichtbaren Werkzeug geworden. Es ermöglicht die präzise Präparation und Analyse einer breiten Palette von Anwendungen für unsere Kund:innen.
Das Tescan Amber X besteht aus einer einzigartigen Kombination aus feldfreier Ultra-High-Resolution BrightBeam™ REM-Optik und Xenon Plasma-FIB. Damit können unterschiedlichste Applikationen präzise präpariert und analysiert werden.
Kennen Sie bereits die Vorzüge?
Komplettiert wird das FIB-SEM Rasterelektronenmikroskop System durch einen EDX-Detektor mit besonders großem Detektorenfenster zur Darstellung der spezifischen Zusammensetzung einer Materialoberfläche.
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