Das neue FIB-SEM Elektronenmikroskop Tescan Amber X
Unser FIB-SEM-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl ist bei IWG zu einem unverzichtbaren Werkzeug geworden. Es ermöglicht die präzise Präparation und Analyse einer breiten Palette von Anwendungen für unsere Kund:innen.
Das neue FIB-SEM Elektronenmikroskop Tescan Amber X Read More »
